高温老化试验箱厂家是为了达到满意的合格率，几乎所有产物在出厂前都要先藉由老化。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条件下提高其效率?本文介绍在高温老化试验箱厂家老化过程中进行功能测试的新方案，以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问题。
在半导体材料业内，元器件的高温老化试验箱老化难题一直存有各种各样争执。像其他商品一样，半导体材料随时随地将会由于各种各样缘故而出现常见故障，高温老化便是意谓让半导体材料开展过载工作中，而使缺点在短期内内出现，防止在应用初期产生常见故障。如果不意谓脆化，许多半导体材料制成品因为元器件和生产制造工艺多元性等缘故在应用中会造成许多难题。
在刚开始应用后的几个小时到几日以内出现的缺点(在于生产制造工艺的完善水平和元器件整体构造)称之为初期常见故障，脆化以后的元器件大部分规定100%清除由这段时间导致的常见故障。老化之后的器件基本上要求100%消除由这段时间造成的故障。准确确定高温老化房老化时间的唯一方法，是参照以前收集到的高温老化试验箱厂家老化故障及故障分析统计数据，而大多数生产厂商则希望减少或者取消老化。
高温老化试验箱厂家老化制程，必须要确保工厂的产物满足用户对可靠性的要求，除此之外，它还必须能提供工程数据以便用来改进器件的性能。
