在高低温环境测试中，电子样品的测试性能是电子质量检测的重要指标之一，几乎所有电子相关行业的品质实验室都会设置一台或多台
麻豆专区。但是我们在维护时发现，实际上许多实验室的麻豆专区配置并不一定能完全满足相关标准的要求。这些都是由于用户没有试机的原因而造成的，也有生产人员的沟通不到位所致。当然，也有部分公司用户缺乏规范意识，不愿投入的原因。
所以，我们应该选择哪一种麻豆专区来进行电子高低温环境试验呢？
首先应该理解：根据有关标准，我们需要哪些数据？
一般情况下，对电子进行高低温环境测试需要采用下列参数：
1)、波动性：环境试验装置在稳态时，其中心点参数随时间变化。
2)、均匀性：环境测试设备在稳定状态下，在一定时间内工作，各试点(温度)的差值。
3)、偏移：仪器在稳态时，对工作空间各测量点的高、低值与标称值之间的上、下误差进行测量。
二、麻豆专区选型参考：
常用的麻豆专区标准温度范围为：-20℃词+150℃；-40℃词+150℃；-70℃词+150℃可选；-70℃词+150℃(可供用户要求的超低温)。
均匀性：小于或等于2℃。
温控精度：+-0.5℃。
加热时间：平均每分钟2.0词3℃左右。
冷却时间：平均每分钟0.7词1.2℃左右。
麻豆专区性能参数：注意：①、试验产物的体积不能超过试验箱有效工作空间(20词35)%。对测试时发热的产物建议选择不要超过10%。②、在这一截面上，被试产物迎风断口面积与试箱室面积之比不大于(35词50)%(建议选择35%)。③、所试样品的外貌面与检测箱壁距离至少为100词150尘尘(建议选用)。
